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大阪ガスは企業競争力のベースを技術に求めており、研究開発は最も重要な企業差別化戦略の一つと考えています。
そのために、以下に紹介する、さまざまな新技術の研究開発、実用化に積極的に取り組んでいます。

塗膜の上から検査できる密閉型磁粉探傷法

概要

従来の磁粉探傷法では検査前に塗膜剥離などの前処理が必要でしたが、磁粉探傷法を改良することにより、塗膜の上から検査できる密閉型磁粉探傷法を開発しました。



関連資料

特徴 

 磁粉探傷法では磁粉を含む検査液を検査対象に直接かけて検査を行います。密閉型磁粉探傷法では、この検査液を透明なシート内に密閉した検査シートを用いることにより、検査対象の表面形状の影響を受けにくくなりました。これにより検査対象の表面に塗膜やサビがあってもそれらを除去することなく検査が行えるため、前処理にかかる費用の削減が可能となります。

原理 

磁粉探傷法では、検査対象を磁化したときに欠陥から漏れてくる磁界に磁粉が集まることにより磁粉模様が形成され、表面の欠陥を見つけることができます。しかし表面の塗膜に割れなどがあるとそこにも磁粉が集まるため、欠陥との区別がつきません。そのため事前に塗膜などを剥離する必要がありました。新たに開発した密閉型磁粉探傷法では、磁粉を含む検査液は検査シートの中に密閉されているために、塗膜の割れなどに磁粉が集まることがなく、塗膜の上からの検査が可能になりました。

密閉型磁粉探傷法

仕様 

検査方法 塗膜・錆の上から検査可能(前処理なし)
検査範囲 70mm×70mm
適用範囲 整形済み溶接線・治具溶接跡等(凹凸10mm以下)
検出限界 0.5mm厚の塗膜下のJIS A2-30/100(直線)試験片
検査速度 6m/h〜10m/h(検査時間3〜5秒/箇所)
検査装置重量 2.9kg(電源除く)

密閉型磁粉探傷用検査シート 密閉型磁粉探傷法による検査の様子

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